控制器
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信号处理
ADC: 18 通道 24-bit ADC 的 X, Y 和 Z 扫描器位置传感器
DAC: 17 通道 20-bit DAC的 X, Y 和 Z 扫描器定位
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集成功能
3通道数字锁相放大器 弹性系数校准(热方法) 数据Q 控制
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选项/模式
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标准成像: 真正的非接触模式, 接触模式, 侧向摩擦力显微术(LFM), 相位成像模式, 轻敲模式, Pinpoint?模式:Pinpoint成像;
化学性能: 扫描电化学池显微镜(SECCM), 扫描电化学显微镜(SECM), 电化学原子力显微镜(EC-AFM)和电化学扫描隧道显微镜(EC-STM), 功能化探针的化学力显微镜
介电/压电性能: 静电力显微镜, 动态接触式静电力显微镜(EFM-DC), 压电力显微镜 (PFM), 高电压PFM;
力测量: 力-距离(F-D)光谱, 力谱成像;
磁性能: 磁力显微镜(MFM), 可调外加磁场MFM;
热性能: 扫描热显微镜(SThM);
电性能: 导电AFM(CP-AFM), Pinpoint? 导电AFM, I-V谱线, 扫描开尔文探针显微镜(SKPM/KPM), 高电压SKPM, QuickStep?扫描电容显微镜(SCM), 扫描电阻显微镜(SSRM), 扫描隧道显微镜(STM),
扫描隧道光谱(STS), 光电流测绘(PCM), Current-distance(I/d) Spectroscopy (with SICM);
机械性能: Pinpoint?纳米力学模式, 力调制显微镜(FMM), 纳米压痕, 纳米刻蚀, 高电压纳米刻蚀, 纳米操纵;
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