专为超大纳米平板显示器测量而设计的自动化原子力显微镜(AFM)系统
随着对大型平板显示器原子力显微镜计量需求的增加,Park NX-TSH通过利用探针扫描器和龙门式气浮台的结合,克服了针对大型和重型样品进行纳米计量的巨大挑战。Park NX-TSH能获得高分辨率的表面粗糙度测量,台阶高度测量和关键尺寸测量。
专为OLED面板行业整片测量,LCD测量提供的全自动探针扫描器解决方案
专为新一代显示器工厂的应用需求研发设计
Park原子力显微镜公司已经扩展了原子力显微镜设备的测量尺寸,Park NX-TSH(龙门架设计平板式探针扫描器)可针对第八代及
大于第八代的所有大型平板显示器进行测量。专为新一代显示器工厂的应用需求研发设计,样品尺寸可以测2200 mm。
硅片直径的变化
使用导电原子力显微镜,Park NX-TSH 使用可选探针站测量样品表面,该探针站接触样品表面并向小设备或晶圆片上的设备提供电流。
Park NX-TSH用于带有导电原子力显微镜的2D编码器样品,通过集成微探针站进行电气缺陷分析。
克服了样品大小和重量的限制
专为新一代显示器工厂的应用需求研发设计,样品尺寸可以测到2200 mm.
具有闭环双伺服系统的100μmx 100μm柔性导向XY扫描器
具有低噪声位置传感器的15μm高速Z扫描器
自动测量控制,简易操作测量更精准!
? 自动,半自动,手动模式三种模式随时切换控制 ? 提供自动化程序的编辑方法 ? 实时监控测量过程 ? 自动分析所获得的测量数据
电离系统可提供更稳定的扫描环境
Park NX-TSH规格: