凌光红外LUXET Thermo 50锁相红外显微成像系统焕新升级
基于非制冷红外相机的锁相红外显微成像系统
锁相红外显微系统是一款先进的非破坏性电性故障定位设备，它可以直接快速地透过IC正面或背面来找出缺陷所在位置。它利用高灵敏度的中(长波)红外探测器在IC通电情况下探测缺陷位置热辐射的分布，以此定位失效点，是实验室研发、检测、IC产品设计、电路失效分析领域的理想失效分析工具。LUXET Thermo 50是一款基于非制冷红外相机的锁相红外显微成像系统，配置了电动垂直运动系统、高帧频长波红外相机、广角镜头与显微镜头、高压源表，可以适用于封装器件、电路板等多种不同种类器件的失效点分析。
西努光学自2003年成立以来，始终致力于以“以光学及图像算法为核心，为用户提供检测解决方案”推动智能检测装备的转型升级，公司将显微光学成像技术以及图像算法应用于检测技术，帮助工业企业、科研高校等客户实现智能化检测发展，产品功能涵盖缺陷检测、智能制造、实验室理化解决方案等多个领域。